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真空蒸镀中蒸镀源冷却时间对LED芯片性能的影响

1486天前

主要介绍了LED红光芯片的常规正装垂直结构,以Cr/Ti/Al结构作为金属P电极,在真空蒸镀 过程中各层间的蒸镀源冷却时间对LED芯片性能的影响。通过实验Cr/Ti间、Ti/Al间不同蒸镀源冷却时间反映出,对于单层Cr/Ti间冷却时间缩短,或双层Cr/Ti间及Ti/Al间蒸镀源冷却时间 缩短到一定时间内,均可以有效降低LED芯片在生产制备环节中的电压,而对亮度影响较小,说明层间界面电阻在一定程度上会受蒸镀源冷却时间的影响。

本文作者:郑宏

天津三安光电有限公司 


1  引言 

发光二极管LED(Light Emitting Diode),是一种将电信号转换为光信号的电致发光半导体器件,又被称为固态照明光源。作为第四代的照明光源,其具备高寿命、低污染、低能耗、低驱动电压等特点,已经在市面上得到了广泛应用。就LED芯片材料本身,可分为GaN基和GaAs基LED;就电极位置,可分为水平结构和垂直结构;以材料方向,可分为正装和倒装结构。其中垂直LED由于其电流扩散好,衬底导热率较高等特点,被广泛应用在照明、显示屏、汽车灯、舞台灯、投影仪等领域[1]。企业对于LED芯片在生产制备环节,大多以降低电压,提升发光效率为目标。本文主要讨论LED红光正装垂直芯片,以Cr/Ti/Al作为电极结构,在确保亮度不受明显衰减和电极可靠的前提下,分析通过电子束真空蒸镀法,优化金属间成膜的欧姆层接触,可以达到降低LED芯片电压,保证产品稳定功率输出的目的。真空蒸镀是指在一定的真空度下,将所要沉积成膜的材料利用电阻或电子束加热的手段达到熔化温度,使原子蒸发,到达并附着在基板表面上形成膜层的一种镀膜技术,是一种物理气相沉积(PVD)[2,3]。早在1857年法拉第就提出了这种方法,如今在生产制造行业已经成为最常见的真空镀膜技术之一。在真空镀膜过程中,可实现单层或多层膜沉积。但无论单层还是多层膜,在蒸镀完成后都需要对蒸镀源进行冷却。蒸镀源冷却时间为指定膜层镀膜完成后,电子枪/钨舟/坩埚等器件关闭,整个腔体开始降温的过程;或多层膜蒸镀时,层与层间的降温冷却时间。



2  实验步骤 

垂直LED芯片结构如图1所示。

(1)在砷化镓衬底基板上用MOCVD生长DBR反射层、N型层、MQW、P型层等LED发光的主要外延结构;
(2)采用电子束真空蒸发镀膜方式,在外延层上形成一层氧化铟锡薄膜(ITO)约2850Å;
(3)在ITO薄膜上用电子束真空蒸发镀膜方式分别沉积Cr/Ti/Al膜层作为P电极,其中Cr厚度250Å,Ti厚度200Å,Al厚度20KÅ;

(4)经过基板减薄,电子束真空蒸镀Nside金属电极,以及切割等工艺,最终制备出芯片大小为7mil。本文讨论的重点在于,在额定工作电流为20mA的条件下,通过电子束蒸发蒸镀出的P电极金属膜层,Cr/Ti/Al各层间蒸镀源冷却时间与电压的关系。


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图1 垂直LED芯片结构



3  器件特性测试结果与讨论  

最终制备出的产品光电参数如表1所示,并从中得出如下结论:
(1)第一组实验表明,相同Cr源蒸镀膜层完成后冷却5min再蒸镀Ti膜层,Ti源蒸镀后冷却时间不同(0min/1min/5min),表现出的电压(VF)不同。在Ti膜层蒸镀完成后冷却1min的条件下,所表现出的VF最低;
(2)第二组实验表明,在相同Ti源蒸镀膜层冷却均为5min的条件下,Cr源蒸镀后冷却时间不同(0min/1min/5min),所表现出的VF也不同。在Cr膜层蒸镀完成后冷却1min的条件下,所表现出的VF最低;
(3)第三组实验则表明,Ti膜层和Cr膜层在冷却到不同温度的情况下(Cr/Ti蒸镀源冷却时间分别为5min/5min,1min/1min,0min/0min),两层蒸镀源在冷却时间均为1min的条件下,所表现出的VF最低;
(4)无论单层或多层蒸镀源冷却时间均降为1min时,电压均有明显下降,同时对亮度(LOP)损失影响不大,第一组LOP下降1.7mcd,第二组上升2.48mcd,第三组上升1.81mcd。
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薄膜附着可分为简单附着、扩散附着、通过中间层附着和宏观效应附着4种类型[4]。Al电极与ITO膜层间的附着即为中间层附着。对于该电极结构,Cr/Ti/Al的作用不同:①Cr膜层主要用来在金属蒸镀中增加下方ITO膜层及上方Ti膜层的附着性,防止电极脱落,起到承上启下的作用;②Ti膜层一方面用来在金属蒸镀中增加Cr膜层与Al膜层的附着性,另一方面则用来阻挡Al向下方扩散,起到附着和阻挡的作用;③Al通常用来做金属电极,起到承接焊线的作用。三者在真空电子束蒸镀工艺下形成P电极层,主要用于做电流传导。


如图2所示为模拟不同金属蒸镀源冷却时间等效电路图,主要制备方式为:
(1)在干净的Si片上用电子束真空蒸发方式先蒸镀一层ITO;
(2)用电子束真空蒸镀方式蒸镀Cr/Ti/Al电极结构;
(3)用正负电极接通两个Cr/Ti/Al电极形成电路,用于确认不同蒸镀源冷却时间对应的I-V曲线,如图3所示;

(4)通过图3的I-V曲线可以看出,Cr/Ti/Al不同蒸镀源冷却时间蒸镀后的电极间界面阻值表现不同,而界面电阻较低的电极结构,所对应的VF也相对较低。

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图2 模拟不同金属蒸镀源冷却时间等效电路图


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图3 不同Cr/Ti蒸镀源冷却时间I-V曲线


由于薄膜的沉积过程是在砷化镓基片上进行的,基片的温度会影响膜层结构、晶体生长、凝聚系数、聚集密度等。在真空蒸发成膜中,电子束蒸发产生的热量会导致腔体及基板温度上升,不同的蒸镀源冷却时间,表现出的腔体降温不同,LED基板温度也会存在差异。冷却时间短,腔体温度较高,基板上原子迁移率较高,晶格缺陷减少,膜层聚集密度增加,形成良好的欧姆接触,但基板温度过高,会使蒸汽分子更容易在基片上运动或再次蒸发,这不但使成膜所需的临界蒸气压增高,而且容易形成大颗粒的结晶,还会引起晶体结构的变化或者膜料的分解,造成膜层变质[5]。因此,合理利用腔体内温度可使金属膜层形成良好的欧姆接触。



4  结论 

由于良好的欧姆接触性能,Cr/Ti/Al结构被广泛应用于LED芯片中的P电极结构。Cr/Ti/Al层间在真空蒸镀过程中,在不同的蒸镀源冷却时间下,所表现出的电压不尽相同。无论是Cr/Ti间单层冷却时间缩短至1min,还是Cr/Ti及Ti/Al两层冷却时间均下降至1min,其表现出的界面电阻对降低电压有一定的作用,冷却时间降到0min时反而对降低电压的作用不大。因此选取合适的蒸镀源冷却时间,可以有效降低LED芯片在生产制备环节的电压,同时对亮度不会产生较大影响。



参考文献

[1] 时军朋.电极中Al层对LED芯片可靠性的影响[J].电子质量,2017(1):33-37.

[2] 寿山,戈扬,文彬.表面科学与技术[M].机械工业出版社,2005.

[3] 邸英浩,曹晓明.真空镀膜技术的现状及进展[J].天津冶金,2004,5:45-48.

[4] 张继世,刘江.金属表面工艺[M].北京:机械工艺出版社,1995.

[5] 孔建军.真空镀膜工艺参数对于薄膜性能的影响[J].Defense Manufacturing Technology,2011.10.5:51-54,62.



家电科技介绍

《家电科技》期刊创刊于1981年,是由中国轻工业联合会主管、中国家用电器研究院主办的国家级学术期刊,被《中国核心期刊(遴选)数据库》收录,是家电及相关行业公认的权威科技期刊。

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